对心
血管植入式电子设备（CIED）患者的研究表明，心
房颤动（AF）持续时间与
卒中风险存在相关性，尽管与CHA
2DS
2-VASc评分的相互作用定义不明确。Rachel M.Kaplan等开展的一项研究目的是评估CHA
2DS
2-VASc评分和AF持续时间对CIED患者卒中和全身性栓塞（SSE）发生率的影响。
研究者将来自Optum©电子健康记录（EHR）去识别化数据库（2007~2017）的数据连接到能连续进行AF监测的CIED的Medtronic CareLinkTM数据库。索引日期指定为设备植入后6个月或EHR后1年的可用数据。在索引日期之前通过EHR数据评估CHA2DS2-VASc得分。在索引日期之前的6个月中评估最大每日AF负荷（无AF，6 min~23.5 h以及> 23.5 h）。计算索引日期后SSE率。
结果显示，在21 768例非抗凝CIED患者（68.6±12.7岁，男性63％）中，AF持续时间延长（P<0.001）和CHA2DS2-VASc评分增加（P<0.001）均与SSE年风险显著相关。CHA2DS2-VASc为0~1患者的SSE率低，无论使用设备检测到的AF持续时间如何。但CHA2DS2-VASc为2 AF>23.5 h的患者，CHA2DS2-VASc为3~4 AF>6 min的患者和CHA2DS2-VASc≥5即使无AF的患者卒中风险超过定义为>1％/年的可行阈值。
AF持续时间与CHA2DS2-VASc评分存在相互作用，这可进一步将AF患者的SSE进行风险分层，并有助于指导抗凝治疗。
参考文献
来源：国际循环
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