梅斯医学MedSci APP
医路相伴,成就大医

Clin Implant Dent Relat Res:上颌窦提升术后 SM穿孔提升种植失败风险

Tags: 上颌窦提升术  种植  SM穿孔  更新:2018/10/6

我国、埃及和也门的一项联合研究显示,术中施奈德膜(SM)穿孔可能增加上颌窦提升手术后种植失败的风险。该论文8月31日在线发表于《临床种植牙科相关研究》杂志(Clin Implant Dent Relat Res)。

该研究基于PRISMA评估对涉及施奈德膜(SM)穿孔与种植手术失败之间关联的临床研究进行系统评价和荟萃分析。从3个主要数据库收集了从数据库建立之初到2018年3月的研究,所有临床研究都明确报道了SM穿孔的数量以及放置在穿孔和非穿孔上颌窦中植入物的数量。

结果为,在58项研究中2947例患者进行了3884次上颌窦提升术,植入7358个种植体。根据简单线性回归(P<0.001)和META回归分析(P=0.06),种植手术失败与SM穿孔显著相关。与穿孔上颌窦相比,非穿孔上颌窦种植失败数量显著减少(中等质量证据)[风险比(RR) 为2.17,可信区间(CI)为1.52~3.10,P=0.001]。穿孔上颌窦中种植手术的失败与所使用的外科手术装置(压电外科或旋转式)、外科手术方法(外提升或经牙槽嵴提升)、使用的屏障膜和骨移植材料类型之间无显著相关性。(米思颖 编译)

原始出处:

Essam Al‐Moraissi et al.Does intraoperative perforation of Schneiderian membrane during sinus lift surgery causes an increased the risk of implants failure?: A systematic review and meta regression analysis.Clinical Implant Dentistry and Related Research.First published: 31 August 2018
作者:米思颖 编译   来源: 中国医学论坛报今日口腔 

相关推荐

微信公众号
medsci.cn © 2016